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楼主: 小鬼头

脉冲式数字ESR表的分析与设计(合作帖续篇)

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 楼主| 发表于 2024-2-8 23:49:46 来自手机 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2024-2-8 22:43
发现计数值总不能从0开始,
总是要从30-40开始,
ADC测量正端电压也是从300多mV起步。


这是机子工作正常的表现。如果测得的电压(或相应的计数值)低于300mV,才是不正常。

这是因为,送到比较器的检出信号,总是叠加有300mV的Vdc、以及表笔电阻所带来的附加检出电压。这些电压都属于偏移项,需要作扣除处理。

1、现在的调试阶段:

(1)你把表笔短接,记下此时(即是测零欧姆)的测量计数结果x。

(2)测一只合适的已知阻值的电阻(比如68欧),记下此时的测量计数结果y。

(3)当机子的cal微调已调好后,y-x应该等于68欧的阻值。如果不等于,就调节cal直至等于。

2、完成以上工作后;

(1)编一个小程序,用来专门测零欧姆的数据,把测得的结果x保存下来。

(2)通过mcu编程,令到实际测量的时候,测得的结果y减去x,然后在屏幕上显示y-x的数值。

(3)mcu编程时,根据驱动电流的档位选择,在显示y-x数值的同时,点亮正确位置上的数码管小数点(即DP)。

即是,100mA驱动时,mcu要点亮右边数来第三个数码管的DP,10mA驱动时,mcu要点亮右边数来第二个数码管的DP,1mA驱动时,mcu不点亮任何一个数码管的DP。

做完以上这些,基本上就弄好了esr/r测量功能。
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发表于 2024-2-9 08:24:45 | 显示全部楼层
小鬼头 发表于 2024-2-8 23:49
这是机子工作正常的表现。如果测得的电压(或相应的计数值)低于300mV,才是不正常。

这是因为,送 ...

流程似乎比那个国外机要复杂些,
那个流程是直接计脉冲个数就是结果。
现在的计数方式
恐怕用昨天您贴的这些逻辑电路难以实现.

按您现在的这种流程,
我看cal硬件(是1K的那个电位器吧)也可以省去。
从软件的角度,
无论是增益还是偏移
包括增益加偏移都可以校正的。

另外,根据我的初步试验情况,
PWM和比较器可以省去,
直接用ADC就行。
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 楼主| 发表于 2024-2-9 09:24:59 来自手机 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2024-2-9 08:24
流程似乎比那个国外机要复杂些,
那个流程是直接计脉冲个数就是结果。
现在的计数方式

1、原型机的那份资料里给出的流程图,仅是最最基本的部分,并没有给出更多的有用信息。

(1)没有介绍如何做偏移校准(即是扣除)

(2)我已告诉过你,单独看他那个流程图,即使被测对象是真正的零欧姆,按他的计算流程图得到的结果也至少是1个计数(即底数为1,而不是正确的0)-—有了偏移校准之后这个底数问题就会自动消失

(3)原型机还有检测硬件故障的程序。这部分的流程图也没有给出更多信息,仅是在资料里有关装制说明中得到反映。

2、对于esr/r模式,你那块adc是能应付得来。但容量模式的要求高很多,在没有专门做仿真之前,我连现在这些速度不算慢的运放,能不能顺利完成检出信号的放大任务都没有把握,更何况你这些adc。你没有做过相关试验,现在讨论要不要改为你的adc方案,还为时尚早。

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 楼主| 发表于 2024-2-9 09:35:38 来自手机 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2024-2-9 08:24
流程似乎比那个国外机要复杂些,
那个流程是直接计脉冲个数就是结果。
现在的计数方式

我给出的那2个电容计电路(第一个我没有作很深入的研究),第二个是不需要作偏移校准的。

你看看我的“研究八”就知道,即是有这方面的类似需要,也是以增益校准的形式来予以补偿,也就是,微调比较器的Vref(稍偏离于0.63V)就可达到目的。
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发表于 2024-2-9 10:09:50 | 显示全部楼层
本帖最后由 abbey_tom 于 2024-2-9 10:15 编辑
小鬼头 发表于 2024-2-9 09:24
1、原型机的那份资料里给出的流程图,仅是最最基本的部分,并没有给出更多的有用信息。

(1)没有介绍 ...


那个0变成1的问题,
并不是太大,
只是简单的一个语句顺序,
是先加1还是后加1调整一下即可。
原型机可能是没有运放,
加上它有一个CAL微调,
从原理上做到所计即所得是可能的。
这些都是无所谓的,
反正用MCU,
当然就发挥MCU的优势了。

ADC的试验,
从我8us脉宽采样的情况来看,
是没有问题的。
我试了2us脉宽的采样,
也是可以采到可用电压的,
只不过并联电容不太方便,
还没来得及进行不同电容序列的量化测试。
即使略有差,
从您2/4/6/8/10......的脉宽序列设置来看,
顶多也就是每档的前三个数,
比如(0.1-0.99uF)档位中,
测量0.01/0.02/0.03uF这三个电容有差,
但也在3%范围内,
以目前的仪表要求的精度,
并不为过。





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发表于 2024-2-9 10:16:38 | 显示全部楼层
本帖最后由 abbey_tom 于 2024-2-9 10:18 编辑
小鬼头 发表于 2024-2-9 09:35
我给出的那2个电容计电路(第一个我没有作很深入的研究),第二个是不需要作偏移校准的。

你看看我的 ...


另外,
上次您说过可能要用带DAC的功能,
我设计了第二版的PCB,
顺便搭载一些其它试验(如PGA113,还有washu想试验的ADS1220)
使用了2.7元的AIR32.
模拟试验板VER2正面.png
模拟试验板VER2背面.png
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 楼主| 发表于 2024-2-9 10:40:29 来自手机 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2024-2-9 10:16
另外,
上次您说过可能要用带DAC的功能,
我设计了第二版的PCB,

根据近2周的仿真研究,我打算:

1、完全不依靠ADC,也不依靠DAC。

2、pwm的纹波问题,用3级RC滤波(四线版的则用5级RC)可以得到完美解决。只增加少量但很便宜的几只电阻电容。

3、我看了一下daw8所用的内置有比较器的国产ST C8H系列单片机,其单只价钱比我们用的一块运放还便宜。因此,我准备还给出一个使用内置比较器的mcu版本的电路,这样就能省掉价钱相对比较贵的一块运放。

也即是:

(1)目前电路将会给出A、B两个版本,A是使用2块运放的版本,B是1块运放版本(但需要mcu内置有比较器)。

(2)将来的四线版esr表也是这样,A版本使用3块运放,B版本使用2块运放但mcu需内置比较器。




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 楼主| 发表于 2024-2-9 11:02:45 来自手机 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2024-2-9 10:09
那个0变成1的问题,
并不是太大,
只是简单的一个语句顺序,

2uS方波跟2uS锯齿波的峰值测量要求,是完全两回事。

前者有2uS的dc电压稳定时间,后者的dc电压是一直急剧上升的,没有一个稳定时间,只有一个等于峰值电压一半的平均电压。
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发表于 2024-2-9 14:10:08 | 显示全部楼层
本帖最后由 abbey_tom 于 2024-2-9 14:12 编辑
小鬼头 发表于 2024-2-9 11:02
2uS方波跟2uS锯齿波的峰值测量要求,是完全两回事。

前者有2uS的dc电压稳定时间,后者的dc电压是一直 ...


尽管如此,
但我还是觉得可以试验,
理论上是这样:
AIR32的ADC最高时钟为36MHz
最快采样时间为1.5个时钟,
也就是最短采样时间为1.5/36=0.0417us
对于2us的急剧上升的信号来说,
仅占其0.0208,即约2%的时间,
从2us信号的98%时间处开始取样,
取样时间为2%,
得到这2%信号期间的平均值,
虽然采样时间短精度差些,
但也不是说不可用,
否则,AIR32也不会设置这样的采样时间。

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发表于 2024-2-9 15:05:39 | 显示全部楼层
小鬼头 发表于 2024-2-9 10:40
根据近2周的仿真研究,我打算:

1、完全不依靠ADC,也不依靠DAC。

PY32F002A, PY32002B 国产M0+ MCU, 带2个比较器, 0.5~0.6元左右(TSSOP20), 带ADC, 只是性能是不如AIR32F103
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发表于 2024-2-9 15:07:36 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2024-2-9 10:16
另外,
上次您说过可能要用带DAC的功能,
我设计了第二版的PCB,

支持打版, 最好RC,不要小于0805.

AIR32F103,哪里有2.7元的,合宙还是3.8元.
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发表于 2024-2-10 22:49:55 | 显示全部楼层
本帖最后由 abbey_tom 于 2024-2-10 22:51 编辑
小鬼头 发表于 2024-2-8 23:49
这是机子工作正常的表现。如果测得的电压(或相应的计数值)低于300mV,才是不正常。

这是因为,送 ...


采用上述校准方法可能存在操作不便:
1、每档采用类似68Ω(包括0.68Ω、6.8Ω、680Ω)等中间偏上的阻值没有达到满度,
且这些阻值的电阻不是太好找,
建议使用100Ω、10Ω、1Ω之类的。

2、采用CAL电位器也操作不便,
并且由于各档可能并不能同时工作于标准工作点附近,
每档的电位器可能需要处于不同的阻值,
这显然是无法工作的,
建议采用软件校准的方式
包括零偏及满度均保存于不同的存储器,
测量时结合零偏及满度值计算出最终结果。

3、初步实测二阶PWM滤波后的锯齿波仍不够理想,
使用DAC替代PWM则很舒服。
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 楼主| 发表于 2024-2-14 09:51:48 来自手机 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2024-2-10 22:49
采用上述校准方法可能存在操作不便:
1、每档采用类似68Ω(包括0.68Ω、6.8Ω、680Ω)等中间偏上的 ...

1、原型机是使用一只68欧电阻来进行全部量程的cal校准的。

2、我们机子也打算采用原型机这种方法。也就是说,只校准其中一个量程,其他量程依靠器件的“准确”度来获得不错的精度。

你提出的每个量程逐一校准的方法不可取。即使是商品的精密机子,也不会让用户来作这么麻烦的校准,最多也只是在调试阶段,通过这种校准来取得未校准量程的相关数据,最终依靠这些数据来获得更佳的单量程校准效果。而我们的机子不是精密的机子,我认为连调试阶段的全量程校准都可以/应该免掉。

3、我们现在机子只有100个计数,1LSB只有12mV。二级RC滤波对于esr/r模式来说应该已足够,再强的滤波也不会有额外的收获。

你使用adc的方法,允许使用数字信号处理方法(比如测量多次取平均)。而这些数字信号处理方法,本质上也是制造一个滤波器,与电路上采用的强化RC滤波器手段殊途同归。区别在于,一个是在数字域增加滤波器,另一个是在模拟电路域增加滤波能力。

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发表于 2024-2-14 11:03:55 | 显示全部楼层
小鬼头 发表于 2024-2-14 09:51
1、原型机是使用一只68欧电阻来进行全部量程的cal校准的。

2、我们机子也打算采用原型机这种方法。也 ...

实际情况没有那么乐观,
也许我的电路工作不太正常吧(但是感觉也没有什么可调的),
4个档位的0位除100mA档外基本差别不大,
但满度值还是有不少差异的。
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发表于 2024-2-14 12:40:39 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2024-2-14 11:03
实际情况没有那么乐观,
也许我的电路工作不太正常吧(但是感觉也没有什么可调的),
4个档位的0位除10 ...

首先你的layout布线就存在缺陷,看起来似乎很随意,要知道每一根走线每一个元件放置的位置都不是随意而就的,需要综合考虑全盘布局。随意的放置看起来原理都走通,但是实际测试就会出现很多其它问题,当然这是你希望最求品质,你若不最求品质那么也就没有追求可言了
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