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发表于 2022-3-11 11:58:35
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本帖最后由 xjw01 于 2022-3-11 12:13 编辑
低阻测量,本来就可以用你说的方法。
但阻抗高一点,会有很多麻烦事。
比如,测量8k电阻或同等阻抗的电容,这时会发现,检流电阻与8k电阻的连接点对地电压不为0,压降大,同时对地阻抗也较大。
这时,夹具有对地分布参数的,引起的分流不可以忽略。
那么我们需要使用几何结构相对稳定的夹具,且要求分布参数小的。比如高频Q表测量阻抗,就是采用分布参数稳定的。
这样的仪表,用起来不太方便。
前段时间,用VC86E测量超高阻,那个方案就与你的想法是想通的,所以实际制作时,不能随意的拉引线。而采用短线架空来测定。
如果使用V/I变换,就可以很容易的把被测件与仪表用适当的测试线分离,用起来方便。2条夹具,其中1条本来就是接低阻抗端子,不怕分布参数的影响,另1条接在虚地上,分布参数上的分流也是接近于0的。
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