发一个手持电桥大家养养眼

hgjdwx

TH2821A的又一应用，测量半导体器件的结电容，测试参数选Cp，频率选10K，量程锁定0（测试内阻为100K欧）。这个测试的意义在于判断同一批器件的质量，测试结果一致性较好的器件质量也较好（此测试不适用于TH2822A，因为TH2822A的测试电平较高，内阻恒定100欧，器件已导通）

[ 本帖最后由 hgjdwx 于 2011-4-26 12:35 编辑 ]

jarvis31

http://detail.china.alibaba.com/buyer/offerdetail/954615658.html  这款如何 ?

hgjdwx

看参数和TH2822C相当，不了解的是产品的质量，做工，稳定性，耐操性和价格

jarvis31

我手上有TH2822C, 在100kHz看它写的指标 4.000pF – 39.999pF  (+/- 1.2%+5d)
0.000p – 3.999pF (+/- 3.0%+10d)  
算起来这个0.001pF最小分辨率的量程规格至少10位起跳, 有点惠而不实呀 呵
实际测量小电容, 感觉电容测量时两脚的间距有变化时, 好像差异都不只0.01pF
或许透过特殊订制的夹具让每次量测能固定这个变量, 这样或许能得到较有参考价值的读值

hgjdwx

理论上串一个较小的电容（几十皮甚至更小）可行，但是计算麻烦，精度也低多了，但是作为成批器件的一致性比对还是可以的。对所串电容大小的选择，可以看显示的D值大小（是指在串电容测量半导体器件结电容时，仪表显示的D值），以D值较小的才有意义。

[ 本帖最后由 hgjdwx 于 2011-4-26 21:53 编辑 ]

miaoxkk

原帖由 jarvis31 于 2011-4-26 21:40 发表
我手上有TH2822C, 在100kHz看它写的指标 4.000pF – 39.999pF  (+/- 1.2%+5d)
0.000p – 3.999pF (+/- 3.0%+10d)  
算起来这个0.001pF最小分辨率的量程规格至少10位起跳, 有点惠而不实呀 呵
实际测量小电容, 感觉 ...

间距差1mm，其分布电容可能就会有约0.02PF的误差。

jarvis31

假设有一真实电容值 0.01pF 的量, 依照 +/-3% 的规格, 其量测值若是落在 0.0097pF ~ 0.0103pF 是其指标的误差范围, 但其显然出来的分辨率最小是 0.001pF, 指标另定义 +/-10字, 等于+/-0.01pF需再额外加上, 因此误差范为将变成 0.000pF ~ 0.020pF (以显示值来看), 也就是量测值落在此范围都符合TH2822所标定的指标(假设不考虑间距的分布电容造成误差的因素)

如果量测一个 2.000pF 电容, 则2*(1 +/- 3%) = 1.940pF ~ 2.060pF, 另加+/-10字则变成1.930pF ~ 2.070pF就是其指标额定范围

这种指标定义方式与万用表相同的, 只是量程多了一些

miaoxkk

原帖由 jarvis31 于 2011-4-27 09:30 发表
假设有一真实电容值 0.01pF 的量, 依照 +/-3% 的规格, 其量测值若是落在 0.0097pF ~ 0.0103pF 是其指标的误差范围, 但其显然出来的分辨率最小是 0.001pF, 指标另定义 +/-10字, 等于+/-0.01pF需再额外加上, 因此误差范 ...

而且在TH2822的说明书里关于精度指标还限定了许多的条件，如图中划红线第3条和第7条，如果用了原厂提供的开尔文测试夹具TH26027A来测试元件，不知是否要意味着精度指标还要下降些许？

jarvis31

是的, 测试精度透过额外夹具与直接在测试槽口一定是会有差异的, 即使做了开短路, 特别越在高阻抗下会差异更大, 测试夹具的外部屏蔽良好与否只能减少差距但无法完全一致的

jarvis31

除非能透过一个能够完全良好控制待测组件脚位间距的测试夹具, 否则F=100kHz电容最小分辨率0.001pF在其精度只能达到3%+10d的情况下似乎只是好看用的