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发表于 2011-12-30 21:36:59
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本帖最后由 xjw01 于 2011-12-30 21:42 编辑
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10位AD还能再提升啊,许老师是用过取样吗?
awfi 发表于 2011-12-30 19:41 
原来的过采样算法,效果不好。是依靠单片机内部的DDS噪声实现的。只能提升1bit至2bit,即分辨力提升为原来的3倍左右。
今天换了一个方法:
DDS输出信号再加一个,共有三个信号输出:
1、PWM信号,滤波后变为正弦波
2、0/90度方波信号
3、32kHz方波,积分后变为三角波
基中,32kHz就是为过采样服务的。把32kHz三角波叠加到AD输入端,然后进行30倍过采用,并且两次平均,相当于60倍过采样。这样,分辨力提升10倍左右。比如,测得电阻9.917k,再串联5欧电阻,就会显示9.922欧,有效分辨力比原来高了两三倍。原来的算法,也可以分辨到这个水平,但存在局部“死区”,即存在严重的AD转换后丢码现象,估计丢20%至30%,所以,最后有效分辨力提升不够明显。新算法,测了十几次,未发现丢码。 |
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