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楼主: 小鬼头

合作设计基于mcu的数字式电容ESR表

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 楼主| 发表于 2023-4-1 00:48:33 来自手机 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2023-3-31 22:36
专用的ADC一般都有所谓的增益误差校准和失调误差校准,
不知您这里的增益误差说的是不是类似。

刚翻看了手边的书,看其内容大致可以理解为,你说的2个误差是可以通过校正来消除(其实是相对消除,做不到绝对消除)的,但非线性误差无法通过校正来消除。还有,增益的不确定度(温度改变等带来运放开环增益的变化而引致)也无法消除。

有些运放设置有专门调零引脚,就是用于消除这个失调电压(偏移电压)的影响,让输出端准确到达零电位。

可以通过校正来消除增益误差、偏移(失调)误差,对于本esr表来说是一个很有利的条件。最后得到的误差指标结果,虽然目前还不知道怎么算,但因为已安排有最关键的这2项校正(偏移和增益),有可能比最初我们预想的还要好。

你这里贴的内容里,失调误差的“失调”,在英文里被称为offset ,他可翻译为失调,也可以翻译为偏移。我之前帖子一直说我们电路的偏移量什么什么的,用英语表达那个“偏移”就是offset。

手边书的上述内容启发我:

1、整流电路里二极管非线性压降的存在,将直接带来测量误差。

2、处理交流信号的电路,他的失真也是一个测量误差来源。


ps:我上面计算增益误差,主要是用于区分各种工作方式的优劣。他可以表征该电路抵御外界不利因素影响的能力(比如电源电压变化、以及刚才提到的温度变化)。
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发表于 2023-4-1 08:40:05 | 显示全部楼层
本帖最后由 chaplin1999 于 2023-4-1 08:42 编辑
washu 发表于 2023-3-31 15:00
我找了半天才找到 AVR 的 PGA 带宽只有 4kHZ...   而且启用 PGA 后分 ADC 辨率降低到 7 至 8 位  ...

https://gitee.com/rvmcu/ch573_pocket_multimeter?_from=gitee_search
大佬,国产wch 厂家出过一个ch573 实现 晶体管测试仪的demo ,你看看,有安卓 跟 源码,ch573是risc-v的,adc带pga. 你看看这个u怎么样,这个u只要2块多,这个项目能用么?
      
还有B 站 官方原理分析 视频https://www.bilibili.com/video/BV1J3411k7QB/?spm_id_from=333.337.search-card.all.click&vd_source=1917a07db409b27dc6a563bbaa7005c6
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发表于 2023-4-1 09:45:54 | 显示全部楼层


这可真是蛋疼的 ADC 和 PGA 啊 就看楼主和 abbey_tom 坛友怎么看了

无标题ch573.png
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发表于 2023-4-1 09:57:35 | 显示全部楼层
非线性误差可以由单片机完成修正
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发表于 2023-4-1 10:02:29 | 显示全部楼层
小鬼头 发表于 2023-4-1 00:48
刚翻看了手边的书,看其内容大致可以理解为,你说的2个误差是可以通过校正来消除(其实是相对消除,做不 ...

我在 voltgen 帖子中比较详细说了这个问题

1、整个模拟电路带来的非噪声误差,以及 ADC、DAC 等器件的非噪声误差,都是一个非线性需要高次拟合的曲线,但通常的,我们可以把非线性矫正成线性误差,这也是大多数高位台表校正时只需要输入 0 点和满幅(增益)两个值的原因

我的 Voltgen 也是这样处理的,通过写入高次函数的参数把整个系统误差尽量拉成直线,然后用户只需要输入 y=ax+b 的 a(增益误差) 和 b(失调误差)即可,实际上只需要输入增益误差,因为有自动零设计。

**后期提供多点拟合矫正,可做到 0.1ppm 尺度,但 ESR 表的非线性是否需要做到这个程度,我觉得是不必须的

2、Voltgen 的自矫正主要用途是消除温度对增益误差带来的影响,但那是在 6 位半下这种影响才比较显著,ESR 表因分辨率原因,其实可以不考虑这个问题。对 ESR 表来说,最大的问题是 0 点受夹具影响很大,需要提供“非厂家”的“用户矫正”,其实一般 LCR 表都有这个功能(夹具的开路补偿和短路补偿),ESR 表基本可不考虑开路补偿问题,主要是短路补偿问题,如果 1 做得好,那么它最后也是 y=ax+b 的 b(的一部分),可以简单代入消除。

3、噪声带来的误差通常可通过多次平均解决
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发表于 2023-4-1 11:23:01 | 显示全部楼层
washu 发表于 2023-4-1 09:45
这可真是蛋疼的 ADC 和 PGA 啊  就看楼主和 abbey_tom 坛友怎么看了

这个最大只有2倍么,
那和没有也区别不大了。
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 楼主| 发表于 2023-4-1 14:37:16 来自手机 | 显示全部楼层
washu 发表于 2023-4-1 10:02
我在 voltgen 帖子中比较详细说了这个问题

1、整个模拟电路带来的非噪声误差,以及 ADC、DAC 等器件的 ...

谢谢指教。

你说到的这些,已经属于再高一个层次的处理方法,需要mcu来做工作,我负责这部分还用不到。

不过有你没说出来的、对我有关增益误差和偏移误差方面认知的认可,我增强了信心。
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发表于 2023-4-1 14:48:49 | 显示全部楼层
washu 发表于 2023-4-1 10:02
我在 voltgen 帖子中比较详细说了这个问题

1、整个模拟电路带来的非噪声误差,以及 ADC、DAC 等器件的 ...


补充一点,LCR、VNA等设备除了开路(OPEN)、短路(SHORT)校正之外通常还有负载(LOAD)校正。
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发表于 2023-4-1 21:02:51 来自手机 | 显示全部楼层
大神云集,学习
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 楼主| 发表于 2023-4-1 21:26:40 来自手机 | 显示全部楼层
三、电感档的测量量程粗算

由感抗计算公式,可得知各种激励(测试)电平可获得的测量上限:

1、0.2mVpp激励(对应的电阻档测量上限=20kΩ)
100khz时的测量上限为31.8mH
10khz时的测量上限为318mH
1khz时的测量上限为3.18H
100hz时的测量上限为31.8H

2、2mVpp激励(对应的电阻档测量上限=2kΩ)
100khz时的测量上限为3.18mH
10khz时的测量上限为31.8mH
1khz时的测量上限为318mH
100hz时的测量上限为3.18H

3、20mVpp激励(对应的电阻档测量上限=200Ω)
100khz时的测量上限为318uH
10khz时的测量上限为3.18mH
1khz时的测量上限为31.8mH
100hz时的测量上限为318mH

4、200mVpp激励(对应的电阻档测量上限=20Ω)
100khz时的测量上限为31.8uH,测量下限0.16uH(对应0.1Ω电阻)
10khz时的测量上限为318uH,测量下限1.6uH(对应0.1Ω电阻)
1khz时的测量上限为3.18mH,测量下限16uH(对应0.1Ω电阻)
100hz时的测量上限为31.8mH,测量下限160uH(对应0.1Ω电阻)

四、电容档的测量量程粗算

由容抗计算公式,可得知各种激励(测试)电平可获得的测量上限:

1、0.2mVpp激励(对应的电阻档测量上限=20kΩ)
100khz时的测量上限为80pF
10khz时的测量上限为800pF
1khz时的测量上限为8nF
100hz时的测量上限为80nF

2、2mVpp激励(对应的电阻档测量上限=2kΩ)
100khz时的测量上限为800pF
10khz时的测量上限为8nF
1khz时的测量上限为80nF
100hz时的测量上限为800nF

3、20mVpp激励(对应的电阻档测量上限=200Ω)
100khz时的测量上限为8nF
10khz时的测量上限为80nF
1khz时的测量上限为800nF
100hz时的测量上限为8uF

4、200mVpp激励(对应的电阻档测量上限=20Ω)
100khz时的测量上限为80nF,测量下限400pF(对应0.1Ω电阻)
10khz时的测量上限为800nF,测量下限4nF(对应0.1Ω电阻)
1khz时的测量上限为8uF,测量下限40nF(对应0.1Ω电阻)
100hz时的测量上限为80uF,测量下限400nF(对应0.1Ω电阻)

——————————
以上仅是罗列一下,用来看看各种工作方式(频率与电平的搭配组合)能覆盖的范围。
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 楼主| 发表于 2023-4-1 21:54:46 来自手机 | 显示全部楼层
电容档的粗算好像有问题,算反了方向。到时再更改
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 楼主| 发表于 2023-4-2 19:32:22 来自手机 | 显示全部楼层
想问一问,现在流行的mcu,当他的输出引脚设置为开漏方式,那么,mcu令这只引脚为L电平(即是内部的n沟mos管完全导通)时,这只引脚对地的电阻大概是多少?(即内部n沟mos管的Ron是多少?)

我打算利用mcu的引脚这个特性,当成电子开关来用,以控制整流运放产生pga的可变增益效果。我知道cmos芯片的这种电阻是数十欧姆的程度,但不知道mcu的情况,想了解一下。
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发表于 2023-4-2 20:44:54 | 显示全部楼层
本帖最后由 abbey_tom 于 2023-4-2 20:54 编辑
小鬼头 发表于 2023-4-2 19:32
想问一问,现在流行的mcu,当他的输出引脚设置为开漏方式,那么,mcu令这只引脚为L电平(即是内部的n沟mos ...


这个详细电阻还真没有资料,
查了一下相关数据手册,
只有最大电压值为0.4V
ooo.jpg
这个我觉得就按N沟道MOS管的一般指标吧

TT用的是20Ω,
但这个电阻并不精确,
上次washu贴出的TT的ESR测量方法,
测量不准确的原因的第3条就是:
使用这个并不准确得知的电阻作为参考值。
ESR.jpg
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 楼主| 发表于 2023-4-2 20:57:18 来自手机 | 显示全部楼层
abbey_tom 发表于 2023-4-2 20:44
这个详细电阻还真没有资料,
查了一下相关数据手册,
只有最大电压值为0.4V

嗯。应该可以倒算出来。

因为这时候的mos是处于on态,进入了“可变电阻区”,他的ds极之间呈现出一只线性良好的电阻(ic内部的电阻很多就是利用这一特点来制作的)。

按此,Ron=0.4V/8mA=50欧,那就是,引脚的这个电阻在50欧以内
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发表于 2023-4-2 21:03:33 | 显示全部楼层
本帖最后由 abbey_tom 于 2023-4-2 21:08 编辑
小鬼头 发表于 2023-4-2 20:57
嗯。应该可以倒算出来。

因为这时候的mos是处于on态,进入了“可变电阻区”,他的ds极之间呈现出一只 ...


电流20mA时最大为1.3V。
那个条件没有看太明白:
“8个引脚同时灌入电流时”
(when 8 pins are sunk at same time)
各个引脚应该是独立的吧
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