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发表于 2011-7-14 18:10:49
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关于输入缓冲/增益电路的试验:
由于运放固然存在失调,低失调精密运放往往是双极型,Ib 很大;JFET 输入的运放 Ib 小但失调很大,我尝试使用 TL062 这种典型的 JFET 输入运放作为缓冲/增益运放,并用模拟开关短路输入的方式试图在程序中消除运放失调的影响。
在静态的试验中,将模拟开关(从上到下依次为 01、02、03...标注错了)03 闭合,此时表头测试结果即为运放的失调值(的 1/2),因此理想试验中,将 03 的结果记为 Offset、01 的结果记为 Measure,则 Result = Measure - Offset 即可消除运放失调的影响,且失调的温度系数也可以消去(02 引入了一个外部基准,比如它是 LTZ1000 或 LM399,则能消去增益电阻 R:R 的温度系数和老化的影响)。
然而实验结果不如人意,尽管静态的时候,结果是稳定的,但可以观察到开关打开后,测试结果要几秒钟才能稳定下来,其原因,认为是 LTC2400 的输入电容 C 的存在,影响了电路的响应 --- 同时因为此电容存在,运放不得不加入补偿以消除振荡(试过没有补偿的话电路会振荡,测试结果乱跳)而进一步劣化了电路的响应。
思考:a、尝试制作一片完整的 PCB,让运放输出和 LTC2400 输入尽可能接近而不接输入的电容(或减小其容量,减小补偿电路的输出电阻大小等等)以加快电路响应;b、老老实实使用低失调运放,甚至斩波运放。
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