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发表于 2013-12-4 21:08:24
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sinoidiot 发表于 2013-12-4 18:51 
别胡说八道了,NP0和CBB电容损耗都是0.0001,但是NP0测试条件是1MHz,而CBB测试条件是1kHz。CL的损耗是CB ...
测试条件一般与容量大小有关,不能说所有的np0都要1MHz测试。
一类介质的损耗低是肯定的,但测试频率不一样的东西之间没法比较,用途也有差异
陶瓷电容本身就很脆,掉地上摔一下很可能就会坏,此时电性能一般体现不出来,但内部已经出现分层
就可靠性来说陶瓷电容不管是CG特性还是2R1特性的都不如薄膜电容 |
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