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发表于 2022-8-24 23:21:30
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washu 发表于 2022-8-24 17:18
我又没说用电源+电阻绝对不会损坏待测器件，但你能坏个 317，肯定是你有问题而不是测试方法有问题，指针 ...
1、我测坏了lm317，确实是我出错，我一时认错了引脚。但马有失蹄的时候，谁能保证测试时不出点小差错呢？
2、用指针表测器件，即使出错，99%也不会测坏器件。
3、用可调电源直接测（不串限流电阻、内部继电器会跳动切换），出了错后，遇到内部继电器跳动造成环路失控的，超过50%会损坏器件。
4、你这段话里面，故意把水搞混，说什么低压器件在指针表高压档测试下也会“击穿”。让半懂不懂看帖者以为，这样测一下，也会像我测坏lm317那样，造成被测器件的永久损坏。进而认为我的指针表测试法，安全性也就是那样，跟可调电源直接测没什么区别，测坏器件的风险同样高。
实际上，指针表高压档产生的击穿，绝大多数情况下是一次击穿（稳压二极管就是利用一次击穿效应来工作的），并不会真的损坏器件。普通爱好者日常接触到的半导体器件，都不会因此而测坏——可能有例外的情形是，22.5V的高压测某些mos管GS极，以及某些很特殊的敏感射频器件。
不管怎么样，就我玩电子30年来说，我还没发现我用指针表直接测坏过半导体器件。
5、我用可调电源测器件，总次数其实是很少的，但已测坏2次器件（除了我专门作破坏性试验的器件之外）。从我的经历对比可看出，用可调电源直接测半导体器件，风险是很高的。也因此，我在前面提出了警示。
ps：要有效防止测坏器件，最好先准备好预防措施（比如串限流电阻），不能光靠自己的注意力。
6、可调电源直接测（没有限流电阻），会损坏器件，是因为可调电源内部继电器跳动（这样的可调电源可不少见）时，整个电源环路会失控，灌出的能量特别大，比指针表高压档大得多。
7、你只看到你的“数字表+电阻+电源”测试法与指针表原理相同，“有毛区别”，但对实操层面的巨大差别却视而不见。
就以楼主的检测tl431好坏为例。我那个指针表法，几秒种就完事。单独测，仅用一个物品（指针表），在路测，多加一件（镊子）。你那“数字表+电阻+电源”法，不算鳄鱼夹、连接线，至少需要找3件物品。如果在路测，可能还需动烙铁。两者的用时差别，是数倍甚至10倍之差。
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