19楼说的已经非常详细了:
1,一般ADC满足Vcode= G*Vin+b,G为增益,b为偏差(offset);
软件校准时, 先测试一个小个VIN(比如接近10%),再测试一个大的VIN(比如接近80%),然后计算出G,b保存.
此办法可以满足大部分普通应用的ADC校准
2,二次多项式校准,Vcode=ax^2+bx+c
软件校准时, 先测试VIN(比如接近10%),再测试VIN(比如接近20%),再测试VIN(比如接近30%)...再测试VIN(比如接近90%), 最后计算出来二次多项式a,b,c的值保存.
此办法可以满足精确测量的ADC校准.甚至如果计算能力足够强可以使用三次,五次多项式.
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