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发表于 2011-7-12 22:11:30
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我想应该不是这样测试的,为什么呢?手册上好像说了,每一次 ADC 过程,芯片会自己对失调和满度进行校准,这个过程是芯片自己完成,用户无法用程序干涉的,并且每一次转换都会做。虽然没有明确说明,但我想所谓的对失调和满度进行校准的意思,就是首先芯片把自己的输入短路了,转换一次,结果记入失调寄存器;然后芯片把输入短接到基准输入,再转换一次,结果记入满度寄存器。最后,芯片把输入和管脚 IN 接起来,对外部的输入电压进行转换,结果记入测量寄存器。
因此,实际上的输出结果 Result = ((MeasREG - OffsetREG) / (REFREG - OffsetREG)) * 2^24(其实是 2^28)。
所以理论上,短路芯片的 IN to GND 的结果总是 0、但实际上有一点失调,而且会随温度变化,手册给出的最大值 2ppm of VREF,使用 5V 基准电压,最大可以达到 10uV,考虑到手工短路还会记入热噪声,再略大一点点也是合理的。
理论上,输入和基准相连接,输出一定是 FFFFFF,这个我测试了一下,转换后结果大约是 5.000,005,跳动正负 1 个字(Av8 算法)可能与热噪声有关,毕竟一个字就是 1uV,这个分辨率已经太高。
但是线性就不好说了,和双积分 ADC 不同,∆-Σ ADC 的线性度一直备受怀疑,如果要检定需要一个线性度十分良好,分辨率超过 1uV 的源才能检定的,基本上业余条件下几乎不可能做这个检定,因此只能以手册为准,手册给出的数据是
VREF=2.5V 时,2ppm 典型/10ppm 最大值
VREF=5V 时,4ppm 典型,15ppm 最大值
基本上,商品 6 位半万用表也不是每个的线性都那么好的。
另外手册上指定的电容,我开始是用 0.1u 金属化电容代替,然后更换为正确容量的贴片独石/钽电容,现在是完全符合手册要求的,但之前不是,而区别几乎没有。
输入的缓冲,既然 HP 3457A 可以用 TL062,OP07 除了 Ib 太大,别的更好。当然,用 TL062 是有前提的,但这很容易解决。 |
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