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发表于 2020-3-24 20:38:03
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AT826如果将Vu,Vi的值计算出实际测量结果?
为了获得实际测量结果,仪器会根据2套数学模型进行计算,串联和并联电路:
纯电阻就是阻抗的实部R
电容的容抗 Xc = 1/(2pi*fC)
电感的感抗XL= 2pi*fL
因此我们可以得到:
串联时的电容 Cs = 1/(2pi*fX)
并联时的电容 Cp = B / (2*pi*f)
关于品质因数Q
Q代表电抗纯度,及纯电抗程度,在没有电阻R的接近程度。电抗X代表存储能量,电阻R为损耗能量,因此
Q = 存储能量/损耗能量 = X/R = B/G
三角函数可以看出: Q = X/R = B/G = tanθ
由此可以计算出 θ= arctan(X/R)
Q一般用于电感器,X越大,Q值越大,其感抗越纯,品质越好,所有也叫做品质因数。
但电容器用耗损因数,通常叫做损耗D,而不用Q值表示其品质。
D= 1/Q = tanδ = R/X
其容抗越大,损耗越小。
ESR 串联等效电阻Equivalent Series Resistance
顾名思义:就是在串联等效电路下的电阻,就是阻抗的实部R。
ESR是电解电容器的重要参数,是一个储能元件自身的能量损耗。这个ESR在高频上表现的很凸出,我们使用的计算机主板为什么选用固定电容器,非常重要的考量是其ESR非常小,在主板的高频下其自身发热量就非常小。早前没有固态电容时普通的铝电解电容器经常有爆裂的情况发生,就是因为其ESR过大,自身发热造成电容爆浆。
因此电解电容器厂家都必须在高频下测量ESR,国家标准是在100kHz下进行测量,低频测量没有意义。
EPR 并联等效电阻
尽管AT826是可以测量并联等效电阻(即并联下的R值),可能我对电容器行业不是太深入,没有听说电容器厂家会使用到这个参数。
1.4 AT826 设计考量
作为电池供电的LCR仪器,需要比台式仪器考虑更多,性能、电池电量、成本都要求考虑到。我们研发此仪器经过2年的研发周期,以便在找到最佳平衡点。
AT826定位于手持式便携LCR数字电桥,销售价格在2000元左右,经常还搞特价促销,我们研发组需要考虑主控CPU、TFT-LCD和触摸屏的成本,需要考虑锂电池的成本、需要考虑几十个运放的成本,需要考虑日益增加的人工成本,外加工成本,考虑销售成本,考虑到年产量,当然还要考虑利润。我们将仪器的准确度定在0.2%,4位半准确度,是对这些方面的综合考虑。研发一种仪器不是爱好者因为爱好而不惜代价,根本不需要需要这么多考量。
手持仪器的使用群体是一般用户维修和检验的需要,而不是用于实验室和高要求的场合,这种场合实际上0.2%的准确度无法适应的。
1.5 关于Q值的问题
之前有朋友一直对品质因数Q有误解,通过上述分析,我们知道Q=1/D
对与电容器来评价Q值很不合理,电容的损耗D通常不大,CBB电容1kHz时通常在0.0010以下,低频则更小一些,假定一个电容的损耗在0.0005,由于仪器的分辨率限制,其显示的0.0005实际会在0.00045~0.00054四舍五入的结果,如果使用Q来评估的话,Q值会一直在2222~1851间跳动。更小的值Q值更大,跳动也会激烈一些。
因为AT826只能显示5位,小数位数4位,倒数时Q值反映的是D的小数点第4位以后的情况,这个超出了仪器的测量能力,我们不对超范围的测量要求提供保障。我们的技术指标规定了0.2%的准确度,即D绝对值与实际值的绝对偏差在 -0.0020~+0.0020之间都认定为合格。
1.6 关于θ角的问题
有网友提出仪器测量电容的θ角超过了-90°。是的,理论上电容器的θ角永远是无限接近-90°,但任何仪器都不能能完全契合,一个采样低功耗低成本的手持仪器则更难实现。
仪器的开路和短路校准、软件校正会或多或少引入误差,我们无法保证其完全准确,但首先必须能够达到技术指标。有人测量出某种电容的实际值为-89.99,而AT826测出θ = -90.01,计算一下这个值与实际值的相对偏差,我们来计算一下这个百分比偏差:
(90.01-89.99)/89.99*100 = 0.02%
希望以上草草的描述对大家有所帮助,有错误之处也请指正。
谢谢!
作者——38度论坛 Its-a-snap |
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