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一个电机测速模块,之前使用的是FREESCALE K10的片子,量产两年多了,因为原厂上游晶圆供应不上导致断货,没办法只能开发并行替代MCU的方案,因为EMC要求特别高(各项验收标准都要求CLASS A),因此选择了MICROCHIP的ATSAME51 CORTEX-M4F,因为方案评估的时候供应商号称这是应用于安全和工控领域的,带ECC内存,所以就用它了。
近两个月的软硬件开发,样品终于进入测试环节。考虑到RE(射频辐射干扰)和CE(传导干扰)的要求,内部PLL禁用,直接使用外部8M晶振作为时钟,于是乎在ESD(静电放电)试验的时候出问题了,要求8KV/6KV,但在4KV时就出现死机和重启现象(因为要判断故障源,ESD测试时看门狗禁用的,所以可以区分死机和重启的事件源),几经周折终于将问题点定位在时钟上:将晶振直接提供时钟改为晶振经内部PLL然后分频成48M,这时候8KV/6KV就稳定了,真是奇了怪了!
各位大虾请帮忙分析下,这是个什么道理,有没有其它途径进一步研究到底是神马个道理?! |
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正交编码器速度检测
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SAME51系列芯片配置
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RE现场偷拍
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ESD测试现场
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