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发表于 2020-5-20 15:47:06
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"什么叫做偏见？”
“汉语释义：对某一个事物脱离客观事实建立起来的一种不公平不合理的否定态度"
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说得没错。看来我说你对指针表有“偏见”，是说对了。
为什么呢？前面我也讲过了，你的问题是没有在同一个平台、同一前提、同样测试需求下进行“数字表VS指针表”的比较，没有客观性可言，也即是失去了公平性。
1、正如我前面帖子所指出的，我们业余爱好者使用数字表或者是使用指针表，大多数情况下，不是用于电路研发，不是用于品质控制，不像你玩基准那样在装机前检测手头的器件是不是假货、电阻有没有达到0.1%的精度，而是有一个很重要的应用，即是对电器故障进行检修。这种情况下的检修，是对原先能正常工作、现在出问题的电器里的元件进行检测。也就是说，被测对象原先肯定是符合品质参数要求的，只是有可能出现了问题，而需要检测，其所测试的重点是元件好与坏的检测，也就是你所说的“粗糙”检测，不是品质检测。
2、这些天我在EEVBLOG电子论坛，看到一个外国网友在讨论业余制作电容ESR表时的跟帖，针对原楼主设计ESR表有些过于追求精度时，他是这样说的（见45#回帖）：
https://www.eevblog.com/forum/projects/esr-meter-adapter-design-and-construction/25/
This is a simple, cheap and clever project: it's not intented to compete with 5000 US$ instruments.
Your ESR meter will be very useful for repair, not for quality control and we don't need high precision.
翻译成中文的意思是：楼主你的ESR表具有简洁、造价低的特点，设计得相当聪明，但他不是用来与5000美元级别的贵价测试仪器进行PK的。你这个ESR表对于电器维修来说，将非常有用，但他不是供元器件的品质控制测试之用。我们这种ESR表不需要有很高的测试精度。
老外这个回帖，实际上从另一个角度讲出我之前回帖中隐含的观点：电器维修时的测量，不需要高精度（精度超过需要后实际上就是一种浪费）。但元器件的品质控制（你玩基准时测试检验假货零件就属此列）则需要。
3、我这里举3个例子，就可看到“元件品质控制的测试VS电器维修时的元件好坏测试”的巨大分野。
例子1：一些小家电的开关电源电路里，使用四只1N4004二极管（规格是1A/400V）对220V市电进行整流。对这只二极管进行检验假货的测试时（品质控制测试时），最起码要测试他的耐压是否达到400V，以防止别人用1N4002（规格是1A/200V）等来假冒，这需要另外动用输出400V以上电压的测试仪器。但电器维修时，大量的维修经验告诉我们，只要简单测一测他还有没有二极管的单向导电性，即可知其好与坏。因为损坏的管子，不是两端呈类似短路的状态，就是两端呈开路状态，几乎没有例外。这一测试任务仅靠普通的指针表/数字表就可完成，不需要用到能输出400V以上高压的仪器，也不需要用1A电流去测，用10mA、1mA或100uA等等均可，而且测一次就够。
PS1：为什么二极管损坏后，极大概率只有这两种表现？这涉及到元件失效机理的问题，我研究不深，也曾想研究一下，但奈何能找到的资料极少，只能靠维修经验和自己的简单分析，大致判断其原因是——二极管因过压或过流击穿后，将首先呈现出类似短路的状态。如果电路中与此二极管串联的器件（比如保险管）率先熔断，那么，我们到时检测时，将会“看到”此二极管呈类似短路的状态。如果220V市电整个返回回路里，电路中与此二极管串联的其他所有器件都不熔断，那么，这只二极管的内部材料将因功率发热过高而熔断，最终呈现出两端开路的表现。
PS2：故障分析、元件失效机理的研究，应属专门的学问。记得以前常可看到MTBF（平均故障间隔时间）这个词，后来就较少出现，或许已表明，这类学问/研究已不再吃香，即使元件失效机理的研究由生产厂家在继续深入，但我们业余爱好者仍然是难以获得有用的针对性信息。现在因为材料物质大大丰富、电器售价一低再低、人工成本越来越贵，维修行业越发没有前途，元件级的维修需求也日益减少，仅有维修店、业余爱好者在维持。最明显的例子，就是测试仪器厂家都不再提供电路图（仅有板级的框图），维修手册仅给出板级维修的信息。我记得，七八十年代的HP/TEK老仪器，维修手册里不仅给出元件级的原理图，而且详述了电路工作原理、给出各种故障排查定位的方法。HP公司专门为了解决逻辑电路故障排查难的问题，更是推出了一套名为SIGNATURE的技术，那时候HP仪器里的逻辑电路PCB，均设有专用的4个端子和1组开关，接上HP5004、HP5005或HP5006等SINATURE分析仪，按手册要求将PCB的一组开关打至指定位置，即可分析显示出故障代码，进而定位出损坏的逻辑IC。总之，我们难于获得故障分析/元件失效的专业知识，只能靠个人自己积累经验和心得，总结其中的规律。
PS3： 据我个人检修经验，分立半导体器件尤其是功率器件/执行器件，几乎100%的都是PS1这种硬击穿。有没有遇到分立半导体器件的软击穿？有，我个人遇到过5例6例，指针表和数字表都测不出好坏（但我也相信，有足够的仪器时，品质测试是能测出来的）。不过，这些器件在我检修经历里，占半导体分立器件总量的不足0.5%，而且都不是“功率”器件。这些软击穿器件包括有，HIF耳放缓冲输出级MOSFET管gm值剧减而其他特性正常（半个月前刚遇到，造成其中一声道音量明显减小）、早期国产收录机里前置放大三极管DG6噪声大增（造成放音时整机有很大的噪声发出）、功放电路VAS级三极管耐压不足（造成音量稍大就失真）、先后有多台电话机被雷击后MPSA42/92三极管耐压变差（造成待机有喀喇声）。
例子2：电磁炉用的IGBT。检修时测好坏极容易，因为其故障表现比例子1还简单，全是CE极击穿短路，我修复过的10多台烧IGBT管的电磁炉全是如此。即是说，检修时的好坏测试，其要求极低。另一方面，如果不知道手头的IGBT型号规格是否合乎要求，装上机就容易出问题。曾修过一台苏泊尔的机子，原机使用东芝的G40RR22，我当时不知就里，用FGA25N120ANTD直接代换（在之前另外机子的维修中曾成功代换过），修复后使用不久就又烧管，屡代换屡烧。后上网查阅相关资料，并从本坛另一版块的无烟男人版主（曾从事电磁炉专业设计，编写过电磁炉维修技术专著）的回帖里吸收营养，方知道，换上不同管子，可能会造成IGBT开关时电压/电流时序问题而烧管（个人判断主要是由于Ciss参数差别大等引致），尤其是后期的数控大环路设计——从这里可以推断，这机子研发时进行IGBT选型试验阶段，作为品质控制的测试要求是很高的，远比我们检修时的好坏测试高得多。若果我们做代换，也需要做这种品质控制的测试——当然了，若果我们不代换，直接用回原型号管子，就不用作这一品质控制测试了。我这里只是用于说明两种测试的大差别。
例子3：电磁炉薄膜电容、电风扇起用的薄膜电容、小家电里阻容降压用的薄膜电容损坏。近年我用我自己设计的指针式电容ESR表（容抗法测ESR），查找出这些失效电容（含CBB/聚丙烯电容、涤纶/聚酯电容）不下30只，其损坏的表现，无一例外均是失去部分容量（在我的指针式电容ESR表下是容抗大幅升高）。我以前看过相关资料，结合个人分析，其损坏机理是，市电里出现的尖锋电压脉冲，造成电容瞬时过压，内部一部分薄膜被击穿，而这种电容有自逾功能，被击穿的薄膜不再与引脚有电气连接，因而就失去了一小部分容量，日积月累下，容量变得过小，令机子出现故障。我曾用数字式ESR表（EZM2501型，测量真ESR值）检查过失效电容，其ESR也极低（低达该表的最高分辨能力），完全无法与好电容区分开来。这说明，若用品质控制测试的方法进行元件好坏的测试，也要有的放矢才行（测容量），否则也是白瞎（测ESR）。
4、只有在同一平台、同一前提、同样测试需求条件下，才有相互PK、相互比较的公平性可言。既然你也认可大多数业余爱好者测试元器件，均是我上述所说的检修时的好坏测试，不是品质控制测试，那么，再回头看一看，你之前贬斥指针表时的言论，是不是仅站在品质控制测试的角度，来讲指针表的不足？
这里也举3个例子：
例子1：见下面帖子
http://www.crystalradio.cn/forum ... =1854423&extra=
别人主帖的原意里，明显是指检修时的测试瓷片电容的漏电。有经验的电器检修人员都知道，需要测漏电的瓷片电容，通常都是有较严重漏电的嫌疑的，这种检测用指针表完全能解决问题，普通数字表往往会输一筹。
好家伙，讲到这项测试，就说需要在额定工作电压下测试才有意义，要测到多么多么小的电流才行，然后又是高阻表的什么出场。完全不考虑测试的场合和需求。这表明，你是在用品质控制测试这一套东西来加在检修时的好坏测试身上。
其实，冷静分析一下就知道，瓷片电容的漏电能不能造成电器故障，还得要看这个瓷片电容放在哪个地方。以MCU电路为例，如果放在+5V电源与GND之间，纵使瓷片电容漏电再严重（比如达5mA)，也不会引发电器故障（因为这一漏电会被电源吸收淹没掉），也就不会产生检修需求。如果是放在分别与GND、MCU输入脚相连的按键两端，就要看决定逻辑电平翻转的上拉固定电阻阻值（比如10K），只有较为严重的漏电（比如达300uA)才会引发故障，像10uA这种相对较轻的漏电，不足以导致逻辑错误而引发故障。
你盲目地说要测到低至0.2uA的电流，有实质意义吗？
例子2：
http://www.crystalradio.cn/forum ... p;extra=&page=2
又是强调要有1000V的测试电压，才算是有能力测试半导体器件。别忘了，这是检修时测好坏用的，不是品质控制测试（需要测他的耐压够不够）。
而根据我修复过多台坏高压二极管或高压电压的微波炉的经验，高压二极管的损坏表现，跟我前面说的1N4004一样，测试要求很低，指针表就能搞定——普通数字表就是搞不定（因为他无法输出6V以上的电压，测不出单向导电性，遇到内部烧断的二极管就抓瞎）。
再看看我前半个帖子吧，检修时，有99。7%的情形不需要专门去测耐压。
例子3：
http://www.crystalradio.cn/forum ... p;extra=&page=2
专门拿1KA的IGBT测试来为难我。不仅忘了要在同一平台、同一标准下作比较了，而且已经顾不上公平性了。
你看我是怎么回答你的：虽然主帖我已标明是检修，但我还是再次强调是检测器件的好坏，即不是测品质参数，防止被你带入坑。
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综上所述，你对指针表的评论显然有失公允，都是带着“品质测试”的有色眼镜来作判断。如果连这一点都不承认的话，那只能说明，你的逻辑思维出了问题——因为你不懂进行逻辑推理时，首先要保证推理的前提必须是正确的，而这个前提就是同样进行的是“检修时的好坏测试”这一前提下进行数字表与指针表的PK。
一句话，你就是对指针表带有明显的偏见。
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