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发表于 2019-6-22 11:07:11
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不能,电桥测量的并联电阻是电容模型的并联电阻,它是模型串联电阻(ESR)在并联模型的转换,或者说,是电容介质耗损的转换。电容存在介质耗损,使得在一个充放电周期中,充入电容的电能再放出来总是略小,一部分电能耗损在介质上(发热)去了,这个耗损在模型中表现为一个电阻,串联模型就是等效串联电阻,并联模型就是等效并联电阻。
电容漏电则是另一回事,虽然在一个充放电周期中,电容的漏电一样导致“充入电容的电能再放出来总是略小”这个结果,换而言之就是电桥测出来的等效并联电阻(以及等效串联电阻)虽然实际上包含了电容漏电导致的能量耗损,但相对于电容介质耗损,通常的电容漏电导致的耗损并不大,尤其是电解电容这种介质耗损非常大的电容,如果漏电不大,很难分辨出来。
或者可以从另一个角度看这个问题,就是将电容漏电引入的电阻 Rd 并联到电容上,由于电解电容的容量大,因此电抗以及总复阻抗很小,我们假设 Rd 是 1 兆欧姆,那么一个 100u 电解电容在 100HZ 的容抗是 15.9 欧姆,DF 大概 0.06,那么 ESR 大约 1 欧姆,EPR 大概 300 欧姆...
所以,你给 EPR 并联一个 1 兆欧电阻,真分不出来 而且本身电解电容的 DF 又在一个很大的范围内,DF 的不确定导致漏电电阻 Rd 并联上去对 EPR 的影响,远不如 DF 的影响。
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