MF35_ 发表于 2024-5-7 15:43
在误差理论中，把由测量误差导致的测量值偏离真实值的程度，称为“不确定度”，即测量值的可信程度， ...
那是我理解错了:lol
MF35_ 发表于 2024-5-7 15:51
用多项式拟合太数学了，一点都不工程。光算参数的代码都要把FLASH挤爆
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用辅助设备去校准有点麻烦，而且多引入一个步骤就会带来额外的问题。
我打算测试一下自校正。基于一个基本的前提，即MCU时钟的短期稳定性
在这个前提下，由定时器生成PWM信号，滤波并缓冲后送回ADC，以此校正ADC的线性误差。
感觉十分可行。按理说，由PWM产生的电压线性度应该只和时钟有关系。
只要时钟在校正过程中不产生大的波动，应该可以得到线性非常好的结果
本帖最后由 MF35_ 于 2024-5-7 16:39 编辑
scu319hy 发表于 2024-5-7 16:29
用辅助设备去校准有点麻烦，而且多引入一个步骤就会带来额外的问题。
我打算测试一下自校正。基于一个基 ...
高精度PWM的问题不止是时钟，与输出电压的稳定度也有关系，尤其是占空比非常大或者非常小的时候，输出电压带来的误差会明显增大，这个不得不考虑，但这个方法应该是可行的，在时钟上获得高精度要远比电压来的容易
MF35_ 发表于 2024-5-7 16:34
高精度PWM的问题不止是时钟，与输出电压的稳定度也有关系，尤其是占空比非常大或者非常小的时候，输 ...
嗯，确实会有这个问题。所以，我打算在校准的时候掐头去尾。
反正MCU的ADC一般在头尾的线性度也比较差，干脆就不用这段数据了
scu319hy 发表于 2024-5-7 16:47
嗯，确实会有这个问题。所以，我打算在校准的时候掐头去尾。
反正MCU的ADC一般在头尾的线性度也比较差， ...
一般来说INL曲线在两端是基本单调的，所以可以用分段插值的方法得到两端的校正值
比如直接校正的点是10%、20%....90%的full scale，依次对每三个点做二次插值（也可以是其他曲线插值方式）取得中间值，而0%到10%的值，可以通过10%、20%、30%三个点的二次插值曲线直接获得，同理，90%到100%的值，也可以通过70%、80%、90%三个点的二次插值曲线直接获得，虽然可能精度不高，但应该比没有强
MF35_ 发表于 2024-5-7 16:56
一般来说INL曲线在两端是基本单调的，所以可以用分段插值的方法得到两端的校正值
比如直接校正的 ...
还没做自动全量程校准，只是简单手工校准了5个点，感觉还有不小的提升空间。
https://v.youku.com/v_show/id_XNjM4ODkzNjM4NA==.html
发现一个问题，STM32连续采样，通道之间互相影响有点严重。
如果内部参考电压如果紧接着数据通道，在数据通道输入电压变化的时候(-1.6V到+1.6V)，内部参考电压也会有比较大的变化(>0.5%)
用温度传感器通道隔开后就要好一些，-1.6V到+1.6V变化<0.02%
有时间拍个我用的国产数字电桥，只需一键就可以测试了。还是电源还是交的，充一次电能用很长时间。
这个变种的不少。
scu319hy 发表于 2024-5-7 18:11
还没做自动全量程校准，只是简单手工校准了5个点，感觉还有不小的提升空间。
发现一个问题，STM32连续 ...
是的，SM32多通道连续采样互相影响的问题，一直是存在的，这个问题很奇怪，它并非用同一个ADC核心通过内部模拟开关切换通道导致的，而是用内部两个独立的ADC核心同时做采样就会产生这个问题，很多年前玩儿玩具示波器的时候就发现这个问题了，我怀疑是参考电压驱动能力不足，当ADC开启的瞬间会导致参考电压波动，导致两个ADC核心同时工作时互相影响，不过我没有验证过，你可以试试
MF35_ 发表于 2024-5-7 10:23
INL软件修正是可行的，只是INL曲线是温度相关的，所以这个方法一般只适合环境温度相对恒定的场合
INL的非线性是很难校准的，因为可能存在一对多的映射关系，除非你是缓慢连续变化才有可能可以校准